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苏州优锆纳米材料有限公司吴江分公司

纳米氧化锆、纳米氧化铝、纳米氧化钛、纳米氧化硅、纳米氧化铈、纳米氧化镁、纳米...

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抛光材料用纳米氧化铈
█技术指标型号UG-CE01外观淡黄色至白色粉末含量99.99%一次粒径nm10-30(TEM)比表面积m2/g40-60灼烧失重(1000℃,1h)2.0%█应用
2024-11-21
高纯纳米氧化铈 作为玻璃添加剂
█技术指标型号UG-CE01外观淡黄色至白色粉末含量99.99%一次粒径nm10-30(TEM)比表面积m2/g40-60灼烧失重(1000℃,1h)2.0%█应用
2024-11-21
银锡触头材料用纳米二氧化锡
UG-S20;UG-S50纯 度:光谱法分析测试杂质含量。晶粒度:X衍射(XRD)线宽化法平均晶粒的测定。颗粒度:GB/T13221纳米粉末粒度分
2024-11-20
光催化抗菌材料用纳米二氧化锡
UG-S20;UG-S50纯 度:光谱法分析测试杂质含量。晶粒度:X衍射(XRD)线宽化法平均晶粒的测定。颗粒度:GB/T13221纳米粉末粒度分
2024-11-20
电工及电子元件用纳米二氧化锡
UG-S20;UG-S50纯 度:光谱法分析测试杂质含量。晶粒度:X衍射(XRD)线宽化法平均晶粒的测定。颗粒度:GB/T13221纳米粉末粒度分
2024-11-20
陶瓷釉料的遮光剂用纳米二氧化锡
UG-S20;UG-S50纯 度:光谱法分析测试杂质含量。晶粒度:X衍射(XRD)线宽化法平均晶粒的测定。颗粒度:GB/T13221纳米粉末粒度分
2024-11-20
化工原料用纳米二氧化锡
UG-S20;UG-S50纯 度:光谱法分析测试杂质含量。晶粒度:X衍射(XRD)线宽化法平均晶粒的测定。颗粒度:GB/T13221纳米粉末粒度分
2024-11-20